Контакты:
-
Скакова Татьяна ЮрьевнаПреподаватель
Автор курса "Электронно-микроскопические и дифракционные методы анализа материалов" - к. ф.-м. н., доцент Скакова Татьяна Юрьевна
В курсе изложены основные методы электронно-микроскопического и рентгеноструктурного анализа материалов. Описаны методики изучения дефектов кристаллического строения и фазового анализа. Курс предназначен для магистров и изучается в третьем семестре.
Курс разработан в полном соответствии с Рабочей программой дисциплины "Электронно-микроскопические и дифракционные методы анализа материалов" для направления подготовки 22.04.01 Материаловедение и технология материалов по профилю подготовки «Многофункциональные материалы». В процессе освоения курса реализуются цели курса: – формирование знаний о современных рентгенографических и электронно-микроскопических методах структурного анализа материалов для решения материаловедческих задач; и задачи курса – освоение методик структурного анализа материалов с применением методов рентгенографии и электронной микроскопии и основ анализа экспериментальных данных, полученных методами рентгенографии и электронной микроскопии, а также магистранты приобретают следующие компетенции:
ПК-5 Способность определять соответствие готового изделия заявленным потребительским характеристикам; прогнозировать и описать процесс достижения заданного уровня свойств в материале
ПК-6 Способностью организовать проведение анализа и анализировать структуру новых материалов, адаптировать методики исследования свойств материалов к потребностям производства и разрабатывать специальные
ПК-7 Способность выбирать метод научного исследования, исходя из конкретных задач, организовывать его осуществление анализировать результаты с использованием современных методов обработки данных, оформлять полученные результаты в виде отчета, научной публикации.Курс включает темы:
Л -2 часа, С- 4 часа
Л- 8 часов, С – 12 часов
Л -6 часа, С – 16 часов
Л -2 часа, С – 4 часа